测厚仪 >> 白光干涉测厚仪
白光干涉仪三维
产品介绍 SuperViewW1白光干涉仪三维能够以优于纳米级的分辨率,对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。仪器具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精密器件的过程用时2分钟以内,确保了高款率检测。并且其特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。 结果组成: 1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等; 2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等; 3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面; 4、薄膜和厚膜的台阶高度测量; 5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量; 6、微电子表面分析和MEMS表征。 |
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