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JPZ-W小麦不完善粒检测仪
JPZ-W小麦不完善粒检测仪图片
型号:JPZ-W
产地:杭州


产品介绍

小麦不完善粒检测仪,主要用于解决粮库粮食收购时,小麦不完善粒检测人工劳动强度大、人员**素质要求高、感官检测标准不一致等突出问题。仪器运用了机器识别、自适应振动等多项独有技术,把检测时间缩短至5分钟以内,实现粮食图像实时采集、粒粒识别、颗颗分析,配备了基于卷积神经网络的粮食AI识别系统,准确率、重复性和稳定性符合快速检验要求,效率较人工*高提高5倍以上。

【主要指标】

(一)不完善粒准确度:符合GB/T 6379.1-2004的规定

(二)检测重复性:符合GB/T 6379.1-2004的规定

(三)仪器台间差:符合LS/T 6402-2017的规定

(四)单样时间:小于5分钟

【应用推广需求】

(一)应用推广方式:销售

(二)应用推广领域:粮库、粮油质检机构、粮油加工企业、酿酒公司等。

小麦不完善粒检测仪【技术参数】

1、检测品种:白麦、红麦、混合麦、玉米

2、检测速度:>200粒/min,检测时间小于5分钟(50g)

3、重复性:产品重复性满足GB/T 6379.1

4、台间差<1%。稳定性符合GB/T 5494-2019

5、检测项目:生芽粒、破损粒、病斑粒、虫蚀粒、生霉粒等

6、图像精度:单粒小麦图像≥100X100像素;单粒玉米图像≥300X300像素

7、检测方法:逐粒检测,360°图像采集

8、检测结果:自动计算样本及各种不完善粒的数量与重量

9、云端数据:数据可上传云平台,云端实时查看

10、显示:可视化显示界面和操作界面

11、输出:USB2.0输出接口和网线接口

12、供电:AC220V

13、温度:15-40℃

14、湿度:≤80%

15、打印:内置微型打印机

16、配置:主机、耗材除标配外另配无线键鼠1套。

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地址: 浙江省杭州市西湖科技园振华路200号
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