光学成像设备 >> CCD相机/影像CCD
VIEW Pinnacle+ Plus
产品介绍 VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle的性能提升到了下一个等级 Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性. ***的线性马达控制技术造就了运行速度最快,最为可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。 特征: X,Y,Z 行程 (毫米):250 x 150 x 50 X,Y,Z 光栅尺分辨率:XY - 0.05 μm, 零膨胀材料,Z - 0.01μm, 零膨胀材料 平台驱动系统:无摩擦高速线性马达驱动 X&Y, 直流伺服马达驱动 Z 最大速度:X,Y - 100 mm/sec / Z - 25 mm/sec 最大承载量:25 kg 光学系统 :单倍放大, 工厂安装背光的镜头和视场交换式前透镜标配为VIEW 1X 背管,5X镜头 计量软件 可选项: Elements 可选项Measure-X 可选项软件模块: 区域多点自动聚焦 连续捕获图像 (CIC) 先进的图像滤光和图像拼接,自定义 UI操作软件 MeasureFit Plus SmartProfile 3D GD&T 评估软件 VMS 离线编程软件 数字输入/输出Digital I/O Benchmark的应用范围包括: 半导体/电子 BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die 引线框,引线接合,柔性线路板,连接器 SMT元件贴装 锡膏/环氧数脂胶点 芯片载体和托盒 喷墨打印机墨盒 光纤组件和MEMs 数据存储 悬置件 滑块和悬臂组(HGA) 磁盘介质基板 精密注塑和机加工件 模具和刀具 医疗设备 燃料喷射部件 手表组件 |
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