Equotip 550 是便携式硬度检测中功能*齐全的一体化解决方案。 里氏硬度原理基于动态(回弹)法,适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。
结合 Equotip Portable Rockwell 探头,Equotip 550 可使用传统的洛氏硬度静态检测法。 这将能够在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值。
新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面,提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外,该仪器可兼容后续开发产品。
全彩显示屏使您能够执行高质量的测量和对已测得数据进行分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。
迄今为止,Proceq 的 Equotip 已经成为全球广泛认可的测量技术和行业标准。 Equotip 装置完全满足众多行业对无损硬度检测的要求。
特色/应用/标准化/技术数据
Equotip Leeb
根据需要自动转换至所有通用的硬度单位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)
自动更正冲击方向确保高准确度 ± 4 HL(硬度为 800 HL 时,准确度为 0.5%)
测量范围广泛,可利用各种冲击装置和支撑环来满足绝大多数的硬度检测要求。
每个冲击装置均可使用硬度范围广泛和准确的硬度测试块,,用于定期验证。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模块化概念: 利用各种型号的探头和配件灵活配置各种行业应用
组合法: 在现场自动将 Leeb 关联至 Portable Rockwell 的实际压痕硬度值
引导向导: 预定义工作流以增强进程可靠性和提高测量精度
自动验证: 根据 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步验证
互动指南: 通过屏幕通知为您的应用获取相关的设置
转换曲线: 直接在仪器上创建、编辑和验证转换曲线
自定义报告: 模块化报告处理器允许自定义测量报告
自动选项: 将 NDT 自动操作集成至质量管理系统和自动检测环境
外壳经过特殊设计,可用于严苛的现场环境 (IP 54),包括背带、集成支架和遮阳盖
高分辨率彩色显示屏
电池使用时长 > 8h
8 GB 闪存
双核处理器,支持各种通信接口和外围接口: 探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网
通过直接兼容后续开发产品,实现未来保障投资
Proceq 提供一些附件,例如一个测量夹或几个支撑脚,适合在各种测试件结构上进行手动硬度测量
标准
ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859(即将发布)
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
准则
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
仪器
显示屏 7” 彩色显示屏 800 x 480 像素
内存 内置 8 GB 闪存(可存储多达 1000000 个测量值)
区域设置 公制和英制单位,支持多种语言和时区
电池 锂聚合物,3.6 V、14.0 Ah
电池使用时长 > 8h(标准操作模式下)
电源输入 12 V +/-25 % / 1.5 A
重量(显示装置) 大约 1525 g(含电池)
尺寸 250 x 162 x 62 mm
*高海拔 2500 m 海拔高度
湿度 < 95 %RH,非冷凝
操作温度 0°C 至 30°C(32 至 86°F) (正在充电且仪器正在运行)
0°C 至 40°C(32 至 104°F) (正在充电且仪器关闭)
-10°C 至 50°C(14 至 122°F) (未充电)
环境 适合室内与室外使用
IP 等级 IP 54
污染等级 2
安装类别 2
Equotip Leeb 冲击装置
冲击方向 自动补偿(DL 探头除外)
冲击能量
D、DC、E、S 探头为 11.5 Nmm
DL 探头为 11.1 Nmm
C 探头为 3.0 Nmm
G 探头为 90.0 Nmm
冲击体质量
球压头
C、D、DC 探头为碳化钨,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)
DL 探头为碳化钨,直径 2.78 毫米(0.11 英寸)
G 探头为碳化钨,直径 5.0 毫米(0.2 英寸)
S 探头为陶瓷,直径 3.0 毫米(0.12 英寸)
E 探头为多晶金刚石,直径3.0 毫米(0.12 英寸)
操作温度 –10˚C 至 50˚C(14 至 122°F)