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真空高低温探针台HCP-1W
真空高低温探针台HCP-1W图片
型号:HCP-1W
仪器产地:国产低温恒温器
温度范围:按需定制
温度稳定性:0.1℃


产品介绍

真空高低温探针台HCP-1W技术参数:


样品台尺寸:150mm*150mm(6in.);


探针数量:≤4;


移动精度:0.01mm;


探针XYZ行程:100mm*100mm*10mm;


样品台旋转角度:360°,精度±1;


样品台侧倾角度:±8°,精度±1;


显微镜放大倍数:15x~100x;



真空高低温探针台HCP-1W产品特点:


产品功能:晶圆探针台在常温环境下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量;


使用范围:帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。


应用领域:提供材料/器件的IV/CV特性测试,LD/LED/PD的光强/波长测试,射频特性器件失效分析,芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案;


定制服务:定制样品台和测量方式;


自动控温:PID自整定连续多点控温。



真空高低温探针台应用:


提供材料/器件的IV/CV特性测试;


LD/LED/PD的光强/波长测试;


射频特性器件失效分析;


芯片内部线路/电极/PAD测试:


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武汉光谷薄膜技术有限公司
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联系人: 王洋
地址: 武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号C1-1综合保税区一期01号标准厂房5层北面部分区城01室
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