真空高低温探针台HCP-1W
产品介绍
真空高低温探针台HCP-1W技术参数: 样品台尺寸:150mm*150mm(6in.); 探针数量:≤4; 移动精度:0.01mm; 探针XYZ行程:100mm*100mm*10mm; 样品台旋转角度:360°,精度±1; 样品台侧倾角度:±8°,精度±1; 显微镜放大倍数:15x~100x; 真空高低温探针台HCP-1W产品特点: 产品功能:晶圆探针台在常温环境下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量; 使用范围:帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。 应用领域:提供材料/器件的IV/CV特性测试,LD/LED/PD的光强/波长测试,射频特性器件失效分析,芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案; 定制服务:定制样品台和测量方式; 自动控温:PID自整定连续多点控温。 真空高低温探针台应用: 提供材料/器件的IV/CV特性测试; LD/LED/PD的光强/波长测试; 射频特性器件失效分析; 芯片内部线路/电极/PAD测试: 用户评论 产品评分 目前评分共0人 产品质量
售后服务
易用性
性价比
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